MIT.nano incorpora un nuevo instrumento de difracción de rayos X para análisis de materiales a escala atómica
MIT.nano ha incorporado un nuevo instrumento de difracción de rayos X, el Bruker D8 Discover Plus, que mejora el análisis de materiales a nanoscale. Este equipo permite examinar la estructura interna de los materiales sin dañarlos, apoyando investigaciones en diversas áreas como electrónica y almacenamiento de energía. Su avanzada tecnología promete facilitar la identificación de fases y análisis microestructurales complejos, ampliando así las capacidades de investigación en el MIT.
